PROJEKT RETINA: Povezovanje gospodarstva z raziskovalnimi institucijami
Apr.
38
PROJEKT RETINA: Povezovanje gospodarstva z raziskovalnimi institucijami

V okviru projekta RETINA Primorski tehnološki park sodeluje pri izgradnji mreže uveljavljenih laboratorijev z izkušnjami na področju znanosti o materialih in omogočanje raziskovalnim centrom ter malim, srednjim in velikim podjetjem dostop do raziskovalne mreže preko ”enotne vstopne točke”.

V okviru projekta RETINA Primorski tehnološki park sodeluje pri izgradnji mreže uveljavljenih laboratorijev z izkušnjami na področju znanosti o materialih in omogočanje raziskovalnim centrom ter malim, srednjim in velikim podjetjem dostop do raziskovalne mreže preko ”enotne vstopne točke”. 

PRIMERI MOŽNIH RAZISKAV V OKVIRU PROJEKTA RETINA:Visoko resolucijska optična karakterizacija površine
  • Analiza od mikro do nano struktur
  • Karakterizacija tankih filmov (neprevodniki,polprevodniki in prevodniki)
  • Določitev elektronskih in strukturnih lastnosti materialov
  • Fizikalna in kemijska analiza materialov (npr. sestava materialov)
  • Analiza tri-dimenzionalnih struktur
  • Karakterizacija polimernih materialov pod različnimi tipi napetosti (natezna, tlačna in upogibna) in različnih oblik (statična,monotona, ciklična)
  • Mehanske lastnosti tankih filmov
  • Termo-mehanska analiza materialov (npr. razteg zaradi povišanje temperature)
  • Termične lastnosti materialov (npr. toplotna prevodnost plastike)
  • Stabilnost materialov in vpliv staranja

 

PROJEKTNI KONZORCIJ
7 konzorcijskih partnerjev sodeluje v mreži uveljavljenih laboratorijev s področja znanosti o materialih na obmejnem območju Slovenije in
Avstrije. Ekspertize konzorcijskih partnerjev se medsebojno dopolnjujejo.

INFRASTRUKTURA SLOVENSKE IN AVSTRIJSKE RAZISKOVALNE MREŽE
  • Elektronski mikroskop (SEM-EDX)
  • Fotoelektronska spektroskopija z X žarki (XPS)
  • Ramanska spektroskopija
  • Infrardeča spektroskopija
  • NMR spektroskopija
  • Tribologija
  • Dinamični mehanski test (DMA)
  • Nano vtiskovanje
  • Mikro sistemski analizator
  • Merjenje površinskega profila
  • Ozkokotno rentgensko sipanje (SAXS)(Sinhrotron ELETTRA)
  • Globoka rentgenska litografija (DXRL) (Sinhrotron ELETTRA)
Celotni seznam metod in tehničnih podrobnosti je dostopen na povezavi:


PRIMERI MOŽNIH RAZISKAV V OKVIRU PROJEKTA RETINA

  • Visoko resolucijska optična karakterizacija površine
  • Analiza od mikro do nano struktur
  • Karakterizacija tankih filmov (neprevodniki,polprevodniki in prevodniki)
  • Določitev elektronskih in strukturnih lastnosti materialov
  • Fizikalna in kemijska analiza materialov (npr. sestava materialov)
  • Analiza tri-dimenzionalnih struktur
  • Karakterizacija polimernih materialov pod različnimi tipi napetosti (natezna, tlačna in upogibna) in različnih oblik (statična, monotona, ciklična)
  • Mehanske lastnosti tankih filmov
  • Termo-mehanska analiza materialov (npr.razteg zaradi povišanje temperature)
  • Termične lastnosti materialov (npr. toplotna prevodnost plastike)
  • Stabilnost materialov in vpliv staranja


Za dodatne informacije smo vam na voljo na #EM#696f646c4475746e656678786764237b603f617a#EM# 

 



Napovednik

  November 2019
NedPonTorSreČetPetSob
 12
3456789
101113141516
17181920212223
242526282930

Želiš biti na tekočem z dogajanjem?
Prijavi se na E-novice!